Ano ang prinsipyo ng probe

Ang mga test probe ay maliliit na single-stranded na DNA o RNA fragment (humigit-kumulang 20 hanggang 500 bp) na ginagamit upang makita ang mga pantulong na nucleic acid sequence.Ang double-stranded na DNA ay na-denatured sa pamamagitan ng pag-init upang maging single-stranded, at pagkatapos ay may label na radioisotopes (karaniwang phosphorus-32), fluorescent dyes, o enzymes (gaya ng horseradish peroxidase) upang maging probes.Ang Phosphorus-32 ay kadalasang isinasama sa pangkat ng pospeyt ng isa sa apat na nucleotide na bumubuo sa DNA, at ang mga fluorescent dyes at enzymes ay covalently na naka-link sa mga nucleic acid sequence.

Ngayon sa test fixture, ang test probe ay ginagamit bilang isang medium, ang probe ay inilalagay sa casing, ang probe head ay nakikipag-ugnayan sa bagay na susuriin, at ang lead wire ng casing sa kabilang dulo ay nagsasagawa ng signal, at ang Ang natanggap na signal ay nasa tester.Halimbawa, ang risistor ay gumagamit ng isang kasalukuyang pinagmumulan upang kalkulahin ang pagbaba ng boltahe sa buong probe, at ang kapasitor ay gumagamit ng isang palaging pinagmumulan ng boltahe upang kalkulahin ang slope ng oras ng pagsingil sa iba't ibang mga frequency.Ang probe ay may mga katangian ng patuloy na paggamit kapag ito ay ginawa sa isang kabit, at ang gastos ay hindi mataas.Siya ay malawakang ginagamit sa komunidad ng pagsubok.

Mayroong maraming mga uri ng mga uri ng test probe head.Ang pangunahing dahilan ay ang iba't ibang mga punto ng pagsubok ay nangangailangan ng iba't ibang uri ng ulo.Halimbawa, ang mga dip feet ay gumagamit ng mga uri ng multi-claw head, ang mga test pad point ay gumagamit ng mga pointed, round o flat head, at ang mga IC pin ay gumagamit ng plum blossom.Ang hugis ng ulo, atbp. ay pinipili lahat ng may karanasan na mga tauhan ng produksyon ayon sa mga bahagi sa natapos na PCB.

Ang nanometering ay ang pagpapalakas lamang ng mga materyales para sa probe, at walang epekto sa test fixture.Kung interesado ka, ang epekto sa test fixture ay dapat na bahagi ng test instrument, gaya ng AOI detection.